Ieee Design & Test

Ieee Design & Test简介

《Ieee Design & Test》是一本由IEEE Computer Society出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于2013年，刊期6 issues/year，该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 3区，小类学科：计算机：硬件 4区；工程：电子与电气 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q3。该刊发文范围涵盖计算机：硬件等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外计算机：硬件工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为2.223，

JCR分区（当前数据版本：2021-2022年最新版）

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q3	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q3	2.223
	COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE	Q3

期刊指数

影响因子	h-index	Gold OA文章占比	研究类文章占比	OA开放访问	平均审稿速度
2.223	72	7.10%	100.00%	未开放	--