Microelectronics Reliability

Microelectronics Reliability简介

《Microelectronics Reliability》是一本由PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD出版商出版的专业工程技术期刊，该刊创刊于1964年，刊期Monthly，该刊已被国际权威数据库SCI、SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中，该刊分区信息为大类学科：工程技术 4区，小类学科：工程：电子与电气 4区；纳米科技 4区；物理：应用 4区；在JCR（Journal Citation Reports）分区等级为Q4。该刊发文范围涵盖工程：电子与电气等领域，旨在及时、准确、全面地报道国内外工程：电子与电气工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等，促进学术交流，鼓励学术创新。2021年影响因子为1.418，平均审稿速度较快,2-4周。

JCR分区（当前数据版本：2021-2022年最新版）

JCR分区等级	JCR所属学科	分区	影响因子
Q4	NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY	Q4	1.418
	PHYSICS, APPLIED	Q4
	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	Q4

期刊指数

影响因子	h-index	Gold OA文章占比	研究类文章占比	OA开放访问	平均审稿速度
1.418	80	4.53%	98.03%	未开放	较快,2-4周